SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器(qi)由(you)(you)主機(ji)、測(ce)(ce)(ce)(ce)試探(tan)頭(tou)(tou)(tou)（可選配測(ce)(ce)(ce)(ce)試臺）等(deng)部分(fen)組成(cheng)，測(ce)(ce)(ce)(ce)試結果由(you)(you)數字(zi)表頭(tou)(tou)(tou)直接(jie)顯示。主機(ji)主要由(you)(you)數控(kong)恒(heng)流(liu)源，高分(fen)辨(bian)率ADC、嵌入(ru)式單片機(ji)系統組成(cheng)，自動轉換(huan)量程。測(ce)(ce)(ce)(ce)試探(tan)頭(tou)(tou)(tou)高分(fen)子材料和高耐磨碳化鎢(wu)探(tan)針制成(cheng)，故定(ding)位準(zhun)確(que)、游移率小(xiao)、壽命(ming)長。儀器(qi)具有(you)測(ce)(ce)(ce)(ce)量精度(du)高、靈敏度(du)高、穩定(ding)性好、智能化程度(du)高、測(ce)(ce)(ce)(ce)量簡便、結構緊(jin)湊、使用方便等(deng)特點(自動調零)。可鑒別半導體PN類別。